熱顯像
短波紅外線 (SWIR) 被廣泛應用於偵測溫度超過 100°C (> 373°K 或 > 212°F) 物體的成像。
在實際應用中，砷化銦鎵 被用於捕捉溫度介於 100°C 到 1600°C 以上物體的熱輻射影像。
當溫度超過此範圍時，物體會發出足夠的熱輻射，使其能被 SWIR 相機的視場 (FOV) 偵測到。
典型應用包括在超高溫加工過程中，針對不同產品的工業爐監控。
玻璃瓶缺陷檢測
SWIR 相機可以穿透玻璃成像，讓操作人員能檢查瓶子的內壁與外壁，並監控材料的溫度均勻性與冷卻速率。
這些影像能讓玻璃製造商防止因冷卻不均或未熔化的原材料所導致的破碎。
熔融金屬缺陷檢測
金屬生產中的一項挑戰，是在處理熔融金屬（通常為 980 至 1650°C）時清除雜質（爐渣）。
砷化銦鎵相機能偵測高溫金屬與爐渣或雜質之間的發射率差異，為操作人員提供判斷何時結束製程的必要資訊。
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